??電感負載(UIL/EAS)測試設(shè)備

??T33X系列為電感負載測試系統(tǒng)，也稱為雪崩能量測試系統(tǒng)，主要用于測試Mosfet，IGBT，Diode等半導體器件的雪崩擊穿特性。通過給被測器件施加可控制的感性能量，測試器件是否能夠正常吸收和承受電感釋放的能量，經(jīng)過測試的器件，可以安全使用于感性負載上，提高器件質(zhì)量。本設(shè)備具有雪崩能量曲線功能，即可用于量產(chǎn)測試，也可以用于實驗室分析測試。